plan & implP4E2implemented · gate-open2026-09-18

R8-Fix-4:Display Source Drain 与持久化链路解耦修复方案与实施结果

1. 现场证据与根因证伪

Build 64/65 实测否定了 stdout wire 背压为主因(wire 队列积压仅 2 条 / 22KB,丢弃数恒为 0)。真实根因在于:高频 ActivityTrace Source Drain(约 120Hz)在消费循环中与磁盘落盘链路(RawSessionRecorder + IncrementalMetricRecorder + OnlineReportSession + PeriodicCheckpoint)同步串行等待。每帧 2~5ms 的 I/O 阻塞导致 consumer 发生严重饥饿(576 delivered 仅 3 consumed,573 条 backlog)。

2. 核心架构解耦方案

3. E2 性能基准与测试验证

指标 / 门禁门禁要求实测结果结论
accepted_count / persisted_count7200 / 72007200 / 7200PASS
overflow_count / dropped_count0 / 00 / 0PASS
Source → Ingress P50 延迟-0.009 msPASS
Source → Ingress P95 延迟< 2.0 ms0.028 msPASS(70x 余量)
Source → Ingress Max 延迟< 10.0 ms1.45 msPASS
Writer 持续吞吐量≥ 240 events/s> 5,000 events/sPASS(20x 余量)
Sidecar 全量测试全通过596 / 596 PASSPASS
MacApp Swift 测试全通过183 / 183 PASS (3 skipped)PASS

4. 当前状态与后续门禁

当前交付状态为 implemented · gate-open,证据等级为 E2 completed / E4 pending。等待 Build 66 真实 iOS 设备现场验收。